Szerkezeti elemek tönkremeneteli adatainak kiértékelése

Absztrakt

A cikk célja a mikrokapcsolók meghibásodási adatainak szisztematikus elemzése és az egyes termékek élettartamának jellemzése az átlag illetve szórás változásával. A  tönkremeneteli adatokat  a Weibull eloszlás segítségével elemezzük. Összefoglaljuk a tesztek faktoriális kísérleti tervét és a válaszfüggvény kísérleti modelljeit. Célunk egy élettartam vizsgálati módszer és a termékek megbízhatósági adatainak előrejelzése a mérnöki gyakorlatban.