Szerkezeti elemek tönkremeneteli adatainak kiértékelése

Szerzők

  • Sipkás Vivien Miskolci Egyetem
  • Vadászné Bognár Gabriella Miskolci Egyetem

DOI:

https://doi.org/10.35925/j.multi.2021.4.3

Kulcsszavak:

Weibull eloszlás, mikrokapcsolók, sűrűségfüggvény, élettartam tesztek, Weibull görbék

Absztrakt

A cikk célja a mikrokapcsolók meghibásodási adatainak szisztematikus elemzése és az egyes termékek élettartamának jellemzése az átlag illetve szórás változásával. A  tönkremeneteli adatokat  a Weibull eloszlás segítségével elemezzük. Összefoglaljuk a tesztek faktoriális kísérleti tervét és a válaszfüggvény kísérleti modelljeit. Célunk egy élettartam vizsgálati módszer és a termékek megbízhatósági adatainak előrejelzése a mérnöki gyakorlatban.

Megjelent

2021-02-13