Mikrokapcsolók tönkremeneteli eredményeinek elemzése

Szerzők

  • Sipkás Vivien Miskolci Egyetem
  • Vadászné Bognár Gabriella Miskolci Egyetem

DOI:

https://doi.org/10.35925/j.multi.2021.2.25

Kulcsszavak:

mikrokapcsoló, Weibull – eloszlás, gyorsított élettartam teszt

Absztrakt

A cikk célja, az EFOP Fiatalodó és Megújuló Egyetem – Innovatív Tudásváros – a Miskolci Egyetem intelligens szakosodást szolgáló intézményi fejlesztése projekt támogatásával elért eredmények bemutatása. A vizsgált mikrokapcsolók meghibásodási adatait, gyorsított élettartam vizsgálati módszerrel kívánjuk elemezni. A tesztsorozatok eredményeinek elemzésekor meghatározzuk az ún. Weibull-eloszlás paramétereit és vizsgáljuk a tönkremeneteli és meghibásodási folyamatok hatását a mikrokapcsolók élettartamára vonatkozóan.

Megjelent

2021-03-11