Mikrokapcsolók tönkremeneteli eredményeinek elemzése
DOI:
https://doi.org/10.35925/j.multi.2021.2.25Kulcsszavak:
mikrokapcsoló, Weibull – eloszlás, gyorsított élettartam tesztAbsztrakt
A cikk célja, az EFOP Fiatalodó és Megújuló Egyetem – Innovatív Tudásváros – a Miskolci Egyetem intelligens szakosodást szolgáló intézményi fejlesztése projekt támogatásával elért eredmények bemutatása. A vizsgált mikrokapcsolók meghibásodási adatait, gyorsított élettartam vizsgálati módszerrel kívánjuk elemezni. A tesztsorozatok eredményeinek elemzésekor meghatározzuk az ún. Weibull-eloszlás paramétereit és vizsgáljuk a tönkremeneteli és meghibásodási folyamatok hatását a mikrokapcsolók élettartamára vonatkozóan.
##submission.downloads##
Megjelent
2021-03-11
